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Produits
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Application
Pour mesurer simultanément le parallélisme et la planéité des surfaces de mesure planes sur les micromètres et les comparateurs à mâchoires et cadran utilisant la méthode d'interférences
Modèle
- 4 épaisseurs différentes, pour le contrôle du parallélisme dans différentes positions d'axe (pour les axes de mesure pivotant)
Livraison
Dans un coffret
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